CITE2023第十一屆中國電子信息博覽會完美收官

本次展會，置富科技重點展示了閃存芯片智能測試系統-實驗版（FT-N016W）、便攜式-專業版（FT-N008B）、eMMC智能測試系統以及國產化固態存儲產品，吸引了不少專業觀眾前來交流探討，尋找合作契機。尤其是對于置富自主研發的閃存壽命預測技術，引發了大家深刻的探討，受到廣泛關注。該技術通過長時間大量數據積累分析和模擬，創新地將人工神經網絡算法應用于Flash顆粒測試技術中，在非破壞性的閃存測試方式下，預測閃存芯片block的剩余耐寫次數和質量等級。對閃存芯片的可靠性做快速有效的篩選，從而提升存儲器的可靠性和使用壽命，為企業降本增效。

閃存智能分級   助力產業發展

展會現場，置富閃存芯片智能測試系統-實驗版（FT-N016W）也備受矚目，眾多存儲行業客戶與工程師深入探討閃存測試的必要性以及測試設備功能，可以為客戶解決的痛點等問題。該設備是一種可以量身定制測試方案的綜合閃存測試系統，系統并行測試閃存顆粒數量最多可達16顆，可支持多種測試pattern及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供最直觀的圖形化測試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供最精確的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測結果實現智能分級，可以為高級工程師閃存質量分析、科研單位閃存質量研究提供有效助力，為半導體產業發展提供可靠的測試工具。

此外，置富科技還有針對量產型測試的閃存測試設備：生產版（FT-N240）、科研版（FT-N200）、寬溫版（FT-N240B）、卓越版（FT-N512），可提供寬溫測試環境，并行測試閃存顆粒種類最多達64種，并行測試閃存顆粒數量最多達512顆，可以大大提高閃存芯片的鑒定能力和檢測效率，滿足存儲廠商和大型檢測中心的測試需求，為高端領域應用提供了可靠的存儲質量保障。

置富科技以閃存智能測試和分級篩選為核心，逐步形成以芯片測試、方案應用、產品銷售為一體的全產業鏈企業，參與本次展會也是為了響應市場需求，協同上下游產業鏈，共同推動半導體產業的高質量可持續發展。